SR540光學(xué)斬波器

產(chǎn)品簡介
4 Hz 至 3.7 kHz 斬波頻率
低相位抖動
單光束和雙光束實驗
和差參考輸出
螺栓夾或桿安裝

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-09-17

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

電學(xué)測試儀表

數(shù)字源表 SRS電學(xué)儀表信號分析儀 5G無線測試平臺微波網(wǎng)絡(luò)分析儀誤碼儀示波器半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

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SR540 光斬波器

單光束實驗

SR540 斬波器可滿足您的所有光學(xué)斬波要求，從簡單的測量到雙光束和互調(diào)實驗。SR540 具有 4 位頻率顯示、前面板頻率控制、模擬電壓頻率控制和兩個具有可選工作模式的參考輸出。提供兩種陽極氧化鋁刀片：一個 5/6 槽刀片用于頻率高達 400 Hz，一個 25/30 槽刀片用于頻率高達 3.7 kHz。為每排時隙對應(yīng)的頻率以及和頻和差頻提供參考輸出。

光斬波器應(yīng)用

單光束實驗

在此應(yīng)用中，單個光束被外排插槽斬波，右側(cè)BNC的參考輸出用于將鎖相放大器鎖定到斬波頻率。也可以使用內(nèi)行插槽，在這種情況下，左側(cè)BNC將是參考輸出。無論哪種情況，REFERENCE MODE 開關(guān)都處于“向上"位置。

雙光束實驗

在這種布置中，來自單個源的輸出被兩排斬波器插槽以兩個不同的頻率進行分離和斬波。一束光束穿過實驗，另一束用作參考光束。光束被重新組合并發(fā)送到同一個探測器。兩個鎖相用于檢測?內(nèi)，對應(yīng)于實驗信號，以及?外，對應(yīng)于參考光束。如果實驗臂中檢測到的信號與控制臂中檢測到的信號成正比，則由于源強度和檢測器效率變化而產(chǎn)生的影響將被消除。

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